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顆粒電位滴定及粒度分析儀

顆粒電位滴定及粒度分析儀

產(chǎn)品型號: Stabino II

所屬分類:分析儀

產(chǎn)品時間:2023-10-28

簡要描述:顆粒電位滴定及粒度分析儀
通過使用stabino,可實現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測試。
分散體中,同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因,故帶電粒子界面的表征是必
的。當顆粒離子化后,總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。

詳細說明:

顆粒電位滴定及粒度分析儀

通過使用stabino II,可實現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測試。在分散體系中,同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因,故帶電粒子界面的表征是的。當顆粒離子化后,總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。

根據(jù)不同的測量原理,有電泳法,電聲法zeta電位,以及stabino測試所得的流動電位。這些是經(jīng)常被提到的電位參數(shù),來源于作用在顆粒界面雙電層上離子云的剪切力,如圖1。所有這些被測變量都與位于剪切面的顆粒界面電位(PIP)即zeta電位成正比關(guān)系。為了建立界面電位,要么通過電泳法或電聲法建立的電場,要么通過機械應(yīng)力作用于流動電位和電聲法儀器。通過這樣做,來源于溶液中的外部松散附著的離子被帶走,顯露出可被直接測量的界面電位。



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